現在、半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。本装置はこれまでの培ってきた遠心式加速度試験装置の技術を応用し、高加速度の遠心力により印加し、内部の半導体デバイスの特性を無線により動的特性を測定するシステムを開発しました。

特殊モーター及び独自の回転コントロールシステムにより、定加速度中における特性はもちろんの事動的な加速度での特性の変化も測定することが可能です。主に自動車車載用デバイスをはじめ、航空・宇宙機器で利用する半導体デバイスの動的な特性測定試験に使用できます。